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日本電子推出便攜式X射線熒光分析裝置 (2005-06-07)

發布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:1490
日本電子日前推出了由美國Innov-X系統公司生產的輕型X射線熒光分析裝置“α系列手提熒光X線分析儀”。該產品主要用于檢測歐盟RoHS(Restriction on Hazardous Substances,有害物質禁用指令)指令規定的有害物質、被污染的土壤和涂料、粉塵包含的有害金屬、合金和礦物的組成物質等。通過采用袖珍電腦和小型電池,重量減輕到了約1.6kg。價格為520萬日元(約合人民幣40萬元),計劃首年度銷售20臺。   該機配備了專為手提而開發的小型X射線管、SiPiN檢測器和高速數字信號處理器。就檢測器而言,SiLi檢測器必須將試料冷卻至-20℃,而SiPiN檢測器則只需冷卻到-5℃即可。測定結果可輸出到外部電腦上。分析軟件的種類包括樹脂、土壤、涂料、粉塵和合金等產品,可根據檢測目的來選擇。假如同時安裝多個分析軟件的話,1臺機器即可支持所有試料。使用選項軟件,還能由電腦進行控制。   在樹脂檢測方面,鎘從30ppm即可開始檢測,鉛與水銀從10ppm開始即可檢測。而溴、鉻、銻分別從5ppm、40ppm和45ppm開始即可檢測。
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